掃描電子顯微鏡用途：

　　三維形貌的觀察和分析；在觀察形貌的同時(shí)，進(jìn)行微區(qū)的成分分析。

　　觀察納米材料。所謂納米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1～100 nm范圍內(nèi)，在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。

　　進(jìn)行材料斷口的分析。掃描電子顯微鏡的另***個(gè)重要特點(diǎn)是景深大，圖象富有立體感。掃描電子顯微鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學(xué)顯微鏡大幾百倍。

　　觀察厚試樣。其在觀察厚試樣時(shí)，能得到高的分辨率和真實(shí)的形貌。掃描電子顯微的分辨率介于光學(xué)顯微鏡和透射電子顯微鏡之間。

　　進(jìn)行從高倍到低倍的連續(xù)觀察。放大倍數(shù)的可變范圍很寬，且不用經(jīng)常對(duì)焦。掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)范圍很寬(從5到20萬(wàn)倍連續(xù)可調(diào))，且***次聚焦好后即可從高倍到低倍，從低倍到高倍連續(xù)觀察，不用重新聚焦，這對(duì)進(jìn)行事故分析方便。

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